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芯片封裝測試流程詳解

發(fā)表時間:2022-08-08
來源:網(wǎng)絡(luò)整理
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芯片是一個非常高尖精的科技領(lǐng)域,整個從設(shè)計到生產(chǎn)的流程特別復(fù)雜,籠統(tǒng)一點來概括的話,主要經(jīng)歷設(shè)計、制造和封測這三個階段。封測就是金譽(yù)半導(dǎo)體今天要說到的封裝測試。

封裝測試是將生產(chǎn)出來的合格晶圓進(jìn)行切割、焊線、塑封,使芯片電路與外部器件實現(xiàn)電氣連接,并為芯片提供機(jī)械物理保護(hù),并利用集成電路設(shè)計企業(yè)提供的測試工具,對封裝完畢的芯片進(jìn)行功能和性能測試。

 

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為什么要封裝測試呢?

封裝測試的意義重大,獲得一顆IC芯片要經(jīng)過從設(shè)計到制造漫長的流程,然而一顆芯片相當(dāng)小且薄,如果不在外施加保護(hù),會被輕易的刮傷損壞。此外,因為芯片的尺寸微小,如果不用一個較大尺寸的外殼,使用的時候?qū)⒉灰兹斯ぐ仓迷陔娐钒迳希@個時候封裝測試技術(shù)就派上用場了。

封裝測試有著安放、固定、密封、保護(hù)芯片和增強(qiáng)電熱性能的作用,而且還是溝通芯片內(nèi)部世界與外部電路的橋梁——芯片上的接點用導(dǎo)線連接到封裝測試外殼的引腳上,這些引腳又通過印制板上的導(dǎo)線與其他器件建立連接。因此,封裝測試對集成電路起著重要的作用。

封測的主要工藝流程:

一、前段

● 晶圓減?。╳afer grinding):剛出廠晶圓(wafer)需要進(jìn)行背面減薄,至封裝需要的厚度。在背面磨片時,要在正面粘貼膠帶來保護(hù)電路區(qū)域。研磨之后,再去除膠帶。

● 晶圓切割(wafer Saw):將晶圓粘貼在藍(lán)膜上,再將晶圓切割成一個個獨立的Dice,再對Dice進(jìn)行清洗。

● 光檢查:檢查是否出現(xiàn)殘次品

● 芯片貼裝(Die Attach):將芯片粘接在基板上,銀漿固化以防止氧化,再引線焊接。

二、后段

● 注塑:防止外部沖擊,用EMC(塑封料)把產(chǎn)品封測起來,同時加熱硬化。

● 激光打字:在產(chǎn)品上刻上相應(yīng)的內(nèi)容。例如:生產(chǎn)日期、批次等等。

● 高溫固化:保護(hù)IC內(nèi)部結(jié)構(gòu),消除內(nèi)部應(yīng)力。

● 去溢料:修剪邊角。

● 電鍍:提高導(dǎo)電性能,增強(qiáng)可焊接性。

● 切片成型檢查殘次品。

這就是一個完整芯片封測的過程。因封裝技術(shù)不同,工藝流程會有所差異,且封裝過程中也會進(jìn)行檢測。封裝完成后的產(chǎn)品還需要進(jìn)行終測(Final Test,F(xiàn)T),通過FT測試的產(chǎn)品才能對外出貨。

國內(nèi)芯片封裝測試技術(shù)已經(jīng)走在世界前列,這為我們?nèi)矫姘l(fā)展芯片行業(yè)提供了良好的基礎(chǔ)。中國封測業(yè)發(fā)展迅速,預(yù)計全球份額占比從2018年的22%躍升至2025年的32%如此高速的增長,芯片行業(yè)3大細(xì)分領(lǐng)域——設(shè)計、制造、封裝測試均將受益。相信在國人的努力下,我們的芯片設(shè)計和制造水平也會有一天能夠走向世界,引領(lǐng)時代。